HORIBA AFM-ラマン装置

インミディアム Verified independent store

→

AFM-Raman、TERS、SNOMによるナノイメージング装置 ※AFM : Atomic Force Microscope(原子間力顕微鏡) ※TERS : Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (チップ増強ラマン分光) ※SNOM : Scanning Near-field Optical Microscope (走査型近接場 顕微鏡) AFM測定とラマン分光測定を同時に高速マッピング可能なナノイメージング分光装置です。 ソフトウェア制御による、照射レーザ光のアライメント機構、AFMとラマン分光装置との統合ソフトウェアを搭載することで、 TERSやSNOM測定装置としても容易な操作性、高速データ処理、高い信頼性を実現しました。 【特徴】 ・ラマン光に干渉しないIR AFMダイオード ・ヘッドの移動を必要としないチップ交換 ・TERS用高NA対物レンズ（0.7A） ・AFM/ラマン同一領域測定 ・TERSで回折限界を超える測定空間分解能（数十nm～）によるラマン測定 ・XploRA PLUS、LabRAM HR Evolutionに統合可能 Show more