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HR (High-Resolution) 積分法を用いた高感度リーク検出法の研究

JPY 770.00
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Brand IEEJ-P10
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カテゴリ: 論文誌(論文単位)グループ名: 【E】センサ・マイクロマシン部門発行日: 2012/08/01タイトル(英語): High-sensitivity Leak-testing Method with High-Resolution Integration Technique著者名: 藤吉 基弘((株)豊田中央研究所),野々村 裕((株)豊田中央研究

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